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熒光測厚儀

簡要描述:XDL 210 熒光測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和第三方檢測機構以及電鍍行業無損檢測鐵鍍鋅、鐵鍍鉻、銅鍍鋅、銅鍍鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測試。

  • 產品型號:XDL 210
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2026-05-20
  • 訪  問  量:173

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

詳細介紹

  產品名稱及型號:熒光測厚儀   XDL 210
  制造商:三思永恒科技(浙江)有限公司
  說明:圖片僅供參考,您訂的機器可能與圖不全一致
  一、產品主要功能及應用領域:
  XDL 210 熒光測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和第三方檢測機構以及電鍍行業無損檢測鐵鍍鋅、鐵鍍鉻、銅鍍鋅、銅鍍鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測試。
  二、技術參數:
  1、元素分析范圍:從硫(S)到鈾(U);
  2、一次可同時分析3層以上鍍層;
  3、鍍層厚度分析檢出限可達0.01μm;
  4、探測器能量分辨率為145±5eV;
  5、配置小孔準直器,測試光斑在0.1mm以內;
  6、長期工作穩定性為0.1μm(對于小于1μm的最外層鍍層);
  7、多次測量重復性可達0.1μm(對于小于1μm的最外層鍍層);
  8、分析厚度一般為0.1μm到50μm之間(視材料而不同);
  9、應用于金屬電鍍層厚度的測量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等;

  熒光測厚儀

 

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